SZ-45 stereomikroskop
I de senere årene, med den raske utviklingen av moderne teknologier som metallurgi, maskineri, petrokjemi, elektrisk kraft, atomenergi og luftfart, har kravene til stabilitet i produktsveising blitt stadig høyere, og sveisepenetrasjon er viktig for sveisens mekaniske egenskaper. Merker og ekstern ytelse, derfor har effektiv deteksjon av sveisepenetrasjon blitt et viktig middel for å teste sveiseeffekten. Penetrasjonsstereomikroskopet bruker utenlandsk avansert teknologi, som er spesielt egnet for de strenge kravene til sveising innen produksjon av bildeler. Det kan utføre penetrasjon av ulike sveiseskjøter som (stupskjøt, hjørneskjøt, overlappskjøt, T-skjøt, etc.) fotografere, redigere, måle, lagre og skrive ut.
Tekniske parametere:
Mikroskop:
1. Okular: 10X, synsfelt φ22mm
2. Kontinuerlig zoomområde for objektivlinse: 0,8X–5X
3. Okularets synsfelt: φ57,2–φ13,3 mm
4. Arbeidsavstand: 180 mm
5. Justeringsområde for dobbelt pupillavstand: 55–75 mm
6. Mobil arbeidsavstand: 95 mm
7. Total forstørrelse: 7–360X (ta en 17-tommers skjerm med 2x stort objektiv som eksempel)
8. Du kan observere det fysiske bildet direkte på TV-en eller datamaskinen
Måledel:
Dette programvaresystemet er kraftig: det kan måle de geometriske dimensjonene til alle bilder (punkter, linjer, sirkler, buer og forholdet mellom hvert element), de målte dataene kan automatisk markeres på bildene, og skalaen kan vises.
1. Programvaremålingsnøyaktighet: 0,001 mm
2. Grafisk måling: punkt, linje, rektangel, sirkel, ellipse, bue, polygon.
3. Grafisk forholdsmåling: avstanden mellom to punkter, avstanden fra et punkt til en rett linje, vinkelen mellom to linjer og forholdet mellom to sirkler.
4. Elementstruktur: midtpunktstruktur, sentrumspunktstruktur, skjæringspunktstruktur, vinkelrett struktur, ytre tangentstruktur, indre tangentstruktur, kordestruktur.
5. Grafiske forhåndsinnstillinger: punkt, linje, rektangel, sirkel, ellipse, bue.
6. Bildebehandling: bildeopptak, åpning av bildefiler, lagring av bildefiler, utskrift av bilder
